徠卡作為顯微鏡和科學(xué)儀器的世界頂級(jí)品牌，將其在光學(xué)、成像和分析領(lǐng)域的深厚積淀，應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)域，推出了一套高效、精準(zhǔn)、合規(guī)且智能的完整解決方案。
這樣有什么意義呢？
使用清潔度檢測(cè)儀(徠卡)您可在數(shù)秒鐘內(nèi)掌握相關(guān)信息，找出影響產(chǎn)品性能和壽命的顆粒物的來(lái)源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴(yán)格的 VDA 19 和 ISO 標(biāo)準(zhǔn)。在定位顆粒物來(lái)源上節(jié)省時(shí)間也能促成更具經(jīng)濟(jì)效益的清潔度分析。
全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優(yōu)勢(shì)：
利用快捷的化學(xué)分析更快地找出污染源
在內(nèi)部完成步驟，省時(shí)省錢
盡量減少甚至不用 SEM/EDS 進(jìn)行深入分析
- 無(wú)需額外的濾片樣品制備或轉(zhuǎn)移到其它設(shè)備
- 無(wú)需重新定位感興趣區(qū)域或調(diào)節(jié)系統(tǒng)
更快更輕松地執(zhí)行清潔度分析。請(qǐng)?jiān)诰W(wǎng)站上進(jìn)一步了解我們?nèi)碌那鍧嵍葘＜壹?LIBS 二合一解決方案?；蛘咭部陕?lián)系當(dāng)?shù)氐膹瓶@微系統(tǒng)有限公司銷售代表了解詳情。
產(chǎn)品詳情
清潔度檢測(cè)儀 LIBS，LIBS無(wú)需樣品制備，減少的材料分析時(shí)間。
清潔度檢測(cè)設(shè)備，金相顯微鏡，汽車部件清潔度檢測(cè)設(shè)備，元素分析儀徠卡清潔度檢測(cè)儀與顆粒元素分析一體機(jī)。
DM6M LIBS激光誘導(dǎo)光譜復(fù)合式顯微鏡
簡(jiǎn)介：
(1) 1 秒即可獲得化學(xué)元素圖譜，可節(jié)省 90% 的時(shí)間：目視和化學(xué)材料檢驗(yàn)二合一
將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比，測(cè)定微觀結(jié)構(gòu)成分的時(shí)間可節(jié)省 90%。
(2)微觀結(jié)構(gòu)成分分析解決方案： DM6 M LIBS集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對(duì)您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。
(3)無(wú)需樣品制備
只需一次單擊，即可準(zhǔn)確檢查通過(guò)目鏡或攝像頭觀察的物質(zhì)，從而快速簡(jiǎn)單的識(shí)別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識(shí)。
實(shí)現(xiàn)快速材料分析的二合一系統(tǒng)
DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分。
識(shí)別感興趣的微觀結(jié)構(gòu)成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。
優(yōu)勢(shì)概覽
與典型的電鏡方法*相比，節(jié)省 90% 的時(shí)間，而且以可靠的目視和化學(xué)檢驗(yàn)材料信息為基礎(chǔ)，快速做出自信的決策。
*可根據(jù)要求提供證明
無(wú)需 SEM 樣品制備
為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進(jìn)行材料分析能節(jié)省 90% 的時(shí)間？因?yàn)檫@種解決方案：
無(wú)需樣品制備和轉(zhuǎn)移；
無(wú)需系統(tǒng)調(diào)節(jié)；且無(wú)需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。
減少工作流程
將工作流程精簡(jiǎn)至只有一個(gè)步驟，以結(jié)果為重點(diǎn)。
關(guān)于使用 DM6 M LIBS 進(jìn)行成分分析的更多信息，請(qǐng)參考本應(yīng)用說(shuō)明。
迅速?zèng)Q定該做什么
將多種工具組合起來(lái)分析樣品的顯微結(jié)構(gòu)成分，將在一秒鐘內(nèi)獲得元素信息，助您做出正確的決策。
在 90% 以上的情況下，用戶都能獲得足夠的數(shù)據(jù)，對(duì)下一步行動(dòng)做出自信的決策 (例如，是否需要使用 SEM 進(jìn)行更詳細(xì)的分析來(lái)確認(rèn)污染源)。
*基于用戶反饋
組件清潔度分析
DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結(jié)合，讓您僅使用一臺(tái)儀器和一個(gè)工作流程即可對(duì)過(guò)濾器上的樣品進(jìn)行目視和化學(xué)檢驗(yàn)。
這樣可以更輕松地找到污染源。
做出自信的決策
通過(guò)快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)，您將得到在分析過(guò)程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢(shì)。
微觀結(jié)構(gòu)成分的評(píng)估
DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結(jié)構(gòu)和元素/化學(xué)分析，例如礦石、合金、陶瓷等。
無(wú)需進(jìn)行樣品制備，也無(wú)需在 2 個(gè)或更多設(shè)備之間進(jìn)行轉(zhuǎn)移。整個(gè)分析工作流程全部在一臺(tái)儀器上完成。
zui大程度減少占用人力資源的樣品制備
zui大程度減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析，從而節(jié)省時(shí)間和資金。
材料的深度剖面圖和層次分析
LIBS 的消融原理可被運(yùn)用于材料的微型打孔。
微型打孔可應(yīng)用于諸如：
深度剖面
層次分析
表面清潔。
在測(cè)定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時(shí)，深度剖面非常有用。
層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。
利用表面清潔可以去除氧化物和污染。
LIBS：您的化學(xué)分析研究重要工具
DM6 M LIBS 解決方案運(yùn)用激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) 使定性化學(xué)分析成為可能。
單擊即可觸發(fā)分析，激光將穿透樣品上的瞄準(zhǔn)點(diǎn)。一個(gè)等離子體將會(huì)產(chǎn)生，然后分解。產(chǎn)生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。
軟件將圖譜與已知的元素和化合物數(shù)據(jù)集進(jìn)行對(duì)比，從而確定微觀結(jié)構(gòu)的成分。數(shù)據(jù)集可以隨著用戶獲得的具體材料結(jié)果得到擴(kuò)充。
